Particle Measuring Systems Lancia il Primo Contaparticelle da 20 nm Certificato per Solventi in Aree Pericolose
Scopri come Chem 20™ SM consente un monitoraggio sicuro e continuo delle particelle nei solventi, riducendo al contempo i costi e la complessità di installazione.
Il contatore di particelle Chem 20 SM consente il monitoraggio in linea di solventi critici negli ambienti pericolosi della produzione di semiconduttori.
NIWOT, Colorado – Particle Measuring Systems (PMS), leader globale nelle soluzioni per il monitoraggio della contaminazione, annuncia il lancio di Chem 20™ SM, un contaparticelle nei solventi da 20 nm progettato per l’utilizzo in aree pericolose. Progettato per monitorare solventi quali IPA e PGMEA, Chem 20 SM offre un monitoraggio affidabile delle particelle in linea, con certificazioni per aree pericolose, senza richiedere gli involucri di contenimento realizzati dal cliente comunemente utilizzati oggi.
I produttori di semiconduttori affrontano da tempo le difficoltà legate al monitoraggio delle particelle in ambienti con solventi pericolosi. Gli approcci tradizionali richiedono spesso costosi involucri personalizzati con spurgo di azoto attorno ai normali contaparticelle, aumentando complessità, costi e requisiti di manutenzione. Chem 20 SM è una soluzione autonoma progettata specificamente per l’installazione in aree pericolose, che contribuisce a semplificare l’implementazione mantenendo al contempo un controllo della contaminazione efficace.
«Il Chem 20 SM è stato sviluppato per risolvere una problematica che i produttori di semiconduttori affrontano da tempo», ha dichiarato Badr Astiphan, Vice President di Particle Measuring Systems. «Combinando il rilevamento delle particelle a 20 nm con la certificazione per aree pericolose e un design compatto e facilmente installabile, consentiamo ai clienti di monitorare i solventi critici in modo più efficiente e affidabile».
I principali vantaggi di Chem 20 SM includono:
- Progettato per il monitoraggio dei solventi in aree pericolose, con molteplici funzioni di sicurezza integrate
- Design compatto e inline, che richiede meno spazio per l’installazione
- Costi di implementazione inferiori rispetto alle soluzioni basate su involucri di contenimento secondari
- Monitoraggio continuo 24/7 con accesso ai dati sia in locale sia da remoto
- Ottimizzato per applicazioni con solventi ad alta purezza, inclusi IPA e solventi per litografia
Il Chem 20 SM soddisfa i requisiti globali per le aree pericolose, inclusi gli standard IECEx, ATEX e NFPA 70 NEC Class I Division 2.
Con Chem 20 SM, i produttori di semiconduttori e i fornitori di prodotti chimici possono monitorare la contaminazione vicino al processo, individuare tempestivamente gli eventi particellari che possono limitare la resa produttiva e semplificare l’installazione in aree pericolose senza compromettere prestazioni o sicurezza.