Il contatore di particelle Chem 20 SM consente il monitoraggio in linea di sostanze chimiche critiche a base solvente in ambienti pericolosi per la produzione di semiconduttori.
NIWOT, Colorado – Particle Measuring Systems (PMS), leader globale nelle soluzioni per il monitoraggio della contaminazione, annuncia il lancio di Chem 20™ SM, un contaparticelle per solventi da 20 nm progettato per l’impiego in aree pericolose. Progettato per monitorare solventi come IPA e PGMEA, Chem 20 SM garantisce un monitoraggio affidabile delle particelle inline e dispone delle certificazion
i necessarie per l’impiego in aree pericolose, eliminando la necessità degli involucri di contenimento realizzati su misura dai clienti e comunemente utilizzati oggi.
I produttori di semiconduttori affrontano da tempo le difficoltà legate al monitoraggio delle particelle in ambienti con solventi pericolosi. Gli approcci tradizionali richiedono spesso costosi involucri personalizzati con spurgo di azoto attorno ai contaparticelle standard, aumentando complessità, costi e requisiti di manutenzione. Chem 20 SM è una soluzione autonoma progettata specificamente per l’installazione in aree pericolose, che contribuisce a semplificare l’implementazione mantenendo al contempo un controllo della contaminazione efficace.
“Chem 20 SM è stato sviluppato per risolvere una problematica che i produttori di semiconduttori affrontano da tempo”, ha dichiarato Badr Astiphan, Vice President di Particle Measuring Systems. “Combinando il rilevamento di particelle fino a 20 nm con la certificazione per aree pericolose e un design compatto e facile da installare, consentiamo ai clienti di monitorare le sostanze chimiche critiche a base solvente in modo più efficiente e con maggiore sicurezza.”
I principali vantaggi di Chem 20 SM includono:
- Progettato per il monitoraggio dei solventi in aree pericolose, con diverse funzionalità di sicurezza integrate.
- Design compatto e inline che richiede meno spazio per l’installazione.
- Costi di implementazione inferiori rispetto alle soluzioni con involucri di contenimento secondario.
- Monitoraggio continuo 24/7 con accesso ai dati sia in locale sia da remoto.
- Ottimizzato per applicazioni con solventi ad alta purezza, inclusi IPA e solventi per litografia.
Chem 20 SM soddisfa i requisiti globali per le aree classificate come pericolose, inclusi gli standard IECEx, ATEX e NFPA 70 NEC Class I Division 2.
Con Chem 20 SM, i produttori di semiconduttori e i fornitori di sostanze chimiche possono monitorare la contaminazione più vicino al processo, identificare più rapidamente gli eventi particellari che possono limitare la resa produttiva e semplificare l’installazione in aree pericolose, senza compromettere prestazioni o sicurezza.
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